石墨烯等高新材料检测

光学显微分析——样品观测、层数判定；光学对比度图像分析

荧光显微分析——专业的荧光分析软件；荧光现象分析处理

高分辨拉曼光谱分析——石墨烯层数判定、缺陷浓度分析、电子空穴掺杂、层间堆垛方式、应力测试；拉曼成像分析，面扫描以及线扫描判断样品均匀程度；对比度(Contrast)谱及成像测试；光波导测试（底部照射、顶部扫描测试）

吸收光谱分析——石墨烯薄膜的透射、吸收、反射测试；石墨烯溶液、粉末等透射性能测试

傅立叶变换红外光谱分析——薄膜红外波段透射、吸收光谱；镜面反射光谱；利用红外光谱识别化学官能团，确定化合物的结构和类型。适合于有机物、无机物、聚合物、蛋白质二级结构、包裹体；样品痕量分析

原子力显微分析——石墨烯微观表面形貌分析；样品表面导电性分布；电压刻蚀处理

3D表面形貌分析——检测样品表面形貌；测量样品的高度、深度以及起伏角度（纳米级分辨率）

微加工及电学性能测试——石墨烯微纳米器件制备；IV曲线测试，电阻、迁移率测试；光电响应特性测试

透射电子显微镜——形貌观察、电子衍射；高分辨电子显微像、衍射衬度成像；

X射线能谱分析等

万能材料试验机测试——适用于薄膜、纤维、纸张、纺织品布料、铝箔和塑胶材料、高分子凝胶等领域的力学测试；普通测试项目：拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、弯曲和拔出力穿刺力试验；特殊测试项目：弹性杨氏模量、比例形变等

智能X射线衍射仪分析——粉末样品的物相定性与定量分析，以及微区样品的分析；计算结晶化度，晶粒大小；确定晶系、畸变；Rietveld定量分析

X射线光电子能谱分析仪——主要用于各种无机和有机固体材料的表面元素或其价态的定性和定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析；用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。

比表面及孔径分析仪——吸附及脱附等温线测定，Langmuir法比表面积测定，BET法比表面积测定形貌观察；平均粒径分析估算、BJH总孔体积及孔径分布分析；T—plot图法比表面积测定、HK微孔分析。