纳米级精密测厚系统(OIG)

   苏州盛美科智能科技有限公司是上海森明工业设备有限公司在苏州成立的高科技公司。苏州盛美科智能科技有限公司与海归博士团队合作，致力于在线、离线薄膜测厚系统的研发、生产和销售。团队在薄膜、太阳能、半导体、平板显示，智能手机面板等行业提供在线离线模层检测解决方案。

　　公司产品覆盖了在线膜后测量，在线涂布厚度测量，Low-E玻璃镀膜检测，ITO玻璃镀膜检测，半导体、LCD膜厚测量等高端厚度测量，拥有世界水平的光学测量技术。

　　OIG系列产品在线纳米级光学膜厚仪利用光谱相干测量学，精确度可达纳米级，能够测量单层、多层、涂布层厚度，可有效在线监测生产薄膜及涂层厚度，并可在线联网进行质量控制。

　　盛美科纳米级高精度在线测厚系统优势

　　Ø 精度高达0.1纳米，可测量0.1微米的离型膜，1-5微米的HC等

　　Ø 支持同时多层测量涂层、中间层、基底厚度同时测量，不受基材影响

　　Ø 还可测量500微米以上的OAC等厚膜，精度可达0.5微米

　　Ø 使用可见光，波长范围380-1050纳米，无需管制

　　Ø 软件功能丰富，可定制;硬件也可进行定制

　　Ø 可测湿膜厚度