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少子寿命测试仪(WCT-120) |
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 供应商参考报价：￥10 |
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| 联系人： |
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Eric |
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上海市 闵行区 |
| 详细地址： |
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都会路2388号总部一号 |
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| 详细信息 |
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测量原理：QSSPC（准稳态光电导）；
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少子寿命测量范围：100 ns-10 ms；
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测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；
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电阻率测量范围：3–600 (undoped) Ohms/sq.；
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注入范围：1013-1016cm-3；
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感测器范围：直径40-mm；
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测量样品规格：标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；
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硅片厚度范围：10–2000 μm；
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外界环境温度：20°C–25°C；
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功率要求：测试仪： 40 W ， 电脑控制器：200W ，光源：60W；
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通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz；
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