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u<1> 涡流法电阻率分析仪（晶锭和晶片），应用于半导体Wafer及Ingot的电阻率分析； u<2> 涡流法电阻率探头（晶锭和晶片），应用于光伏、太阳能Si片的检测； u<3> SPV法PN探头，应用于光伏、太阳能Si片的检测； u<4> 电容法厚度探头，应用于Wafer的厚度测量，分辨率0.1μm； u<5> 迁移率（霍尔）测试仪，应用于载流子迁移率及载流子浓度的测量； u<6> JPV法薄膜方阻探头及分析系统，应用于电池片方阻测量； u<7> 半自动Wafer电阻率、厚度、PN、温度分析系统（解决样片翘曲度影响）。
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太阳能光伏：
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