Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS (飞行时间二次离子质谱仪) 系列中,是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。
飞行时间二次离子质谱仪原理:
TOF-SIMS主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源,经过一次离子光学系统的聚焦和传输,到达样品表面。样品表面经过溅射,产生二次离子,系统将产生的二次离子提取和聚焦,并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中,不同种类的二次离子由于质荷比不同,飞行速度也不同,在飞行系统分离,通过检测这些离子进行相关分析。
Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束(可选惰 性气体Ar+),该离子束是脉冲式的,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中,该离子***的脉冲时间仅为60ns,因此,主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限,需要在一个点上进行几分钟的分析,在这个点上,表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低,这款TOF分析仪还是非常高效的,这就说明了它具有较高的二次离子数据速率(即使在离子产率相对较低 的聚合物上,也通常为5000 c/s)。
SurfaceSeer S 仪器特点:
SurfaceSeer S 应用领域:
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表面化学
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黏附力
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分层
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印刷适性
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表面改性
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等离子体处理
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痕量分析(表面ppm)
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催化剂
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同位素分析
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表面污染