飞行时间二次离子质谱仪(Kore SurfaceSeer I)

Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度 的TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱仪），具有高通量分析功能，可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择，适用于 研发和工业质量控制应用。

飞行时间二次离子质谱仪原理：

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入被分析样品，把动能传递给固体原子，通过层叠碰撞，引起中性粒子和带正负电荷的二次离子发生溅射，再通过测量不同二次离子的飞行时间测量它们的质量/荷质比，对被轰击的样品的表面和内部元素分布特征进行分析。二次离子质谱可以分析包括氢在内的全部元素，并能给出同位素的信息、分析化合物组分和分子构成，灵敏度好、质量分辨率高、可测量的分子量范围大，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析。

Kore SurfaceSeer I 是一款高灵敏度 TOF-SIMS，用于绝缘和导电材料表面的成像和化学测绘。该仪器是研究表面化学的理想工具，在研发或工业质量控制应用中同样适用。 SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术，但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子***（LMIG）作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µm，可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制，允许在质谱采集期间扫描离子***，从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器（SED），用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。

带有12.7µm重复单元的铜格栅

SurfaceSeer I 仪器特点：

• 配备25KV液态金属离子***（LMIG）作为主要离子源，检测能力更强，质量分辨率更高；

• 具备表面成像和深度剖析功能；

• 提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；

• 可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。

• 专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。

• 表面分析灵敏度高达 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 应用领域:

• 表面涂层和处理

• 电子元件和半导体

• 电极与传感器

• 润滑剂

• 催化剂

• 粘合剂

• 薄膜等包装材料

• 腐蚀研究

• 大学教学与科研