半导体器件参数测试仪(SC2520)_西安中昊芯测科技有限公司

半导体器件参数测试仪SC2520

一、半导体器件参数测试仪SC2520产品概述

半导体器件参数测试仪SC2520是一款通用型分立器件参数测试设备，可测试多种半导体器件的静态直流参数，测试仪可单机工作，也可连接上位机程控测试，测试速度快，精度高，测试电压达2.5KV，电流达200A，基本可以覆盖绝大多数中小功率单管及模块的测量，测试数据可单机实时读取，也可上位机生成TXT或EXCEL报表导出，方便用户使用。

二、产品功能

半导体器件参数测试仪SC2520主要测试半导体器件的种类和参数如下：

MOS：Rdson、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vdss、Idss

IGBT：Vcesat、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vces、Ices

BJT：Vcesat、hFE、BVcbo、Icbo、BVceo、Iceo、BVebo、Iebo、Vces、Ices

DIODE：Vfd、Vr

ZENER：Vfd 、Vz

TVS：Vfd 、Vz

LED：Vfd、 Vr

RES：R（针对大电流小阻值取样电阻）

OPTO：Vfd、Ir、CTR、Iceo、Vr、BVceo、Veco

MOV：压变电阻Vc

RELAY：Rcontact、Rcoil、V吸合、V释放

三、技术参数

项目	参数	单位
电流档 0~100mA 分辨率	0.01	mA
电流档 100~1000mA 分辨率	0.1	mA
电流档 1~10A 分辨率	1	mA
电流档 10~200A 分辨率	10	mA
脉冲电流档位	四	档
档位步进	0.01	%
脉冲宽度	500	us
开路输出电压	≥60	V
正向压降测量范围	0~10	V(100-200A)
正向压降测量范围	0~60	V(≤100A)
栅极输出电压	±30	V
栅极漏电流测试范围	600nA，±6μA ±60μA ±600μA ±6mA ±60mA ±600mA
栅极漏电流带快速充电功能	有
耐压电压	0~2500	Vdc
耐压电流	0~2μA 0~20μA 0~200μA 0~2000μA
漏电电流一键 zero 校零技术	漏电分辨率可达 100pA
可手动按钮触发，也可脚踏触发功能	有
隔离的 RS-485 通讯端口	有
RS-485 接口升级软件	有
供电电压	220	VAC

四、应用领域及场景

>测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)

>失效分析(对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)

>选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

>来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率)

[新品] 半导体器件参数测试仪(SC2520)