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硅棒少子寿命测试仪(BLS)
BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测 ...
更新:2021-08-18
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少子寿命测量仪(BCT-400)
基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度 ...
更新:2021-08-18
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少子寿命测试仪(Suns-Voc)
Suns-Voc测试仪:进行浆料与烧结技术优化,测试少子寿命,PN结的好坏,表面及体内的复合情况,材料质量、钝化效果等"
更新:2021-08-18
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少子寿命测试仪(WCT-120)
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应 ...
更新:2021-08-18
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