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无接触少子寿命测试仪(HS-SIM)
合能阳光无接触少子寿命测试仪(MWR-SIM)，是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、 ...
更新:2014-09-29
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CIGS少子寿命测试仪
详细说明：欧洲太阳能电池CIS/CIGS少子寿命测试仪,CIS/CIGS载流子测试系统是一个自动化的少数载流子寿命的测试系统；这个测试系统既可 ...
更新:2014-01-18
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太阳能级硅少子寿命测试仪
太阳能级硅少子寿命测试仪功能特点：本设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导 ...
更新:2014-08-19
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少子寿命测试仪(WCT-120)
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应 ...
更新:2021-08-18
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硅棒少子寿命测试仪(BLS)
BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测 ...
更新:2021-08-18
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少子寿命测试仪(Suns-Voc)
Suns-Voc测试仪:进行浆料与烧结技术优化，测试少子寿命，PN结的好坏，表面及体内的复合情况,材料质量、钝化效果等"
更新:2021-08-18
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[新品] 微波扫描无接触少子寿命测试仪(WJ-200A)
交易类型:产品名称:硅锭载流子寿命扫描测试系统产品型号:WJ-200B厂商:广州市昆德科技有限公司编号:日 期:2016-6-21单价:交易类型:产品 ...
更新:2016-08-30
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少子寿命测试仪(HS-CLT)
合能阳光少子寿命测试仪(HS-CLT)，是一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼 ...
更新:2014-09-29
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少子寿命测试仪
少子寿命测试仪 XH-120是一款经济实用的硅晶片少子寿命测量仪器，控制装置既适用于研究也适用于生产。采用准稳态光电导（QSSPC） 测量 ...
更新:2014-08-19
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