超低阻值晶片电阻器用铜镍系合金粉 |
申请号/专利号: |
201610913534.2 |
申 请 日: |
2016-10-20 |
名 称: |
超低阻值晶片电阻器用铜镍系合金粉 |
公开(公告)号: |
106435259A |
公开(公告)日: |
2017-02-22 |
主分类号: |
C22C9/06(2006.01)I |
分案原申请号: |
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分 类 号: |
C22C9/06(2006.01)I B22F1/00(2006.01)I B22F9/12(2006.01)I H01B1/02(2006.01)I H01C7/00(2006.01)I |
颁 证 日: |
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优 先 权: |
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申请(专利权)人: |
*相关专利 |
地 址: |
223800 江苏省宿迁市高新技术开发区江山大道23号 |
发明(设计)人: |
谢上川 陈钢强 宋书清 高书娟 *相关专利 |
国际申请: |
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国际公布: |
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进入国家日期: |
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专利代理机构: |
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代 理 人: |
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专利描述: |
一种超低阻值晶片电阻器用铜镍系合金粉,其特征在于:该合金粉由以下组分组成:Ni 35‑45wt%,Mn<1wt%,Fe<1wt%,余量为Cu。本发明的铜镍系合金粉,粒径较为均匀,平均粒径为0.3‑3μm,经过进一步筛分和高精度气相分级,可以调控粉体的粒度分布,可促进低晶片电阻器厚膜印刷制程的升级,并向薄膜蒸镀工艺的厚度靠近,从而改善超低阻值晶片电阻器电性能。 |
标签:博迁新材料 合金粉 |
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