NS3500三维激光共聚焦显微镜
NS-3500是一种可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面拥有多种解决方案。
Features & Benefits(性能及优势):
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高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿
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实时共焦成像 简单的数据分析模式
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多种光学变焦 双Z扫描
大范围拼接 半透明基材的特征检测
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实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备
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自动聚焦
Software (软件):


Application field(应用领域):
NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。
可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如
-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺
- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度
- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形
-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案
-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析



Specification (规格):
Model
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Microscope NS-3500
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备注
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Controller NS-3500E
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物镜倍率
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10x
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20x
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50x
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100x
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150x
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观察/ 测量范围
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水平 (H): μm
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1400
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700
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280
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140
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93
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垂直 (V): μm
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1050
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525
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210
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105
|
70
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工作范围: mm
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16.5
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3.1
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0.54
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0.3
|
0.2
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数值孔径(N.A.)
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0.30
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0.46
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0.80
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0.95
|
0.95
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光学变焦
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x1 to x6
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总放大倍率
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178x to 26700x
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观察/测量光学系统
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针孔共聚焦光学系统
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高度测量
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测量扫描范围
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精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]
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注 1
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长扫描 : 10mm [NS-3500-T]
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显示分辨率
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0.001 μm
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重复率 σ
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0.010 μm
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注 2
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宽度测量
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显示分辨率
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0.001 μm
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重复率 3σ
|
0.02 μm
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注 3
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帧记忆
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像素
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1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96
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单色图像
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12 bit
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彩色图像
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8-bit for RGB each
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高度测量
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16 bit
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帧速率
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表面扫描
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20 Hz to 160 Hz
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线扫描
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~8 kHz
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自动功能
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自动增益
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激光共焦测量光源
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波长
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405nm
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输出
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~2mW
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激光等级
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Class 3b
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激光接收元件
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PMT (光电倍增管)
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光学观察光源
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灯
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10W LED
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光学观察照相机
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成像元件
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1/2” 彩色图像 CCD 传感器
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记录分辨率
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640x480
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自动调整
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增益, 快门速度, White balance
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数据处理单元
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PC
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电源
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电压
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100 to 240 VAC, 50/60 Hz
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电流
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500 VA max.
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重量
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显微镜
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Approx. ~50 kg
(Measuring head unit : ~12 kg)
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控制器
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~8 kg
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隔振系统
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电子隔振器
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Option
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精细和长距离扫描仪的双重扫描模式仅适用于NS-3500-S(单镜头类型)。
注1:精细扫描由压电执行器(PZT)执行。
注2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(步长1μm)进行100次测量。
注 3 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(5μm间距)进行100次测量。