[代理] 台湾Chroma局部放电测试器(19501-K)

基本特点

■单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能

■可程序交流耐压输出0.1kVac~10kVac

■高精度及高分辨率电流表0.01µA~300µA

■局部放电(PD)侦测范围1pC~2000pC

■高压接触检查功能(HVCC)

■符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC60270法规测试要求

■内建IEC60747-5-5测试方法

■量测与显示单元分离式设计

■三段电压测试功能

■PD测量结果数值显示(pC)

■PD不良发生次数判定设定(1~10)

■多语系繁中/简中/英文操作接口

■USB画面撷取功能

■图形化辅助编辑功能

■标准LAN、USB、RS232远程控制接口

局部放电技术

局部放电意指在绝缘物体中局部区域发生放电，且未形成两电极间的固定通道放电即称为局部放电。局部放电测试器对待测物施加一个特定条件下的电压，测量其视在放电电荷量(PD)，除了验证其能否承受瞬间高电压(HipotTest)的能力，同时也验证在额定工作电压的绝缘完整性。局部放电测试能够侦测待测物是否存在异常气隙，透过施加一个略高于组件***高额定工作电压的局部放电电荷测试，用以检验电气组件在正常工作电压条件下之长久可靠性，但于实际生产上绝缘材料内部当然不可能百分之百无气隙存在于绝缘材料内，故在IEC60747-5-5光耦合器法规针对局部放电测试定义其放电电荷量不能大于5pC(qpd=5pC)。

局部放电器校正功能

局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被精确的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说明，Chroma19501-K局部放电器亦依据法规要求进行设计与开发。校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1Ca，则校正器上的脉冲等效放电量qo=VoCo单次放电脉冲。如图说明:

高精准量测

Chroma19501-K拥有高精度的局部放电测量，具有两个量测档位，分别为200pC与2000pC档位，测量范围从1pC~2000pC，在200pC文件位下***佳分辨率为0.1pC，高精度的测量与直观性的将量测结果显示在画面上，有助于对高绝缘物体进行微小放电量判定与分析。

抗干扰结构设计

局部放电测试器具备窄频域滤波器用以测量被测元器件微小放电量，然而测试仪器在工厂端的使用不同于在实验室内，工厂环境干扰因素相对多，可能包含来自现场自动化机械运转，马达作动或其它的高频辐射干扰；因此于产在线使用其环境噪声干扰将会增加，进而影响PD的测量与判定，如何降低与避免局部放电设备的量测回路受到高频辐射干扰，对于生产业者与自动化设备商来说是一大课题。局部放电发生时其放电反应速度快通常为nS，为高频放电且其讯号非常微小，因此很容易受到周遭高频辐射干扰而出现测量误差，造成测量系统不确定因素增加，要如何做到精确量测PD放电量又必须避免受到这些高频辐射干扰，对于局部放电仪器设计技术上是一个挑战。Chroma19501-K局部放电测试器了解到设备的使用环境中可能存在不可避免的高频辐射干扰，因此在产品设计架构上采用量测与显示单元分离式设计，将量测模块外移，以***接近待测物的方式进行量测，降低因为长距离的测试线导致易受到周遭环境高频辐射干扰。同时于量测线路设计上采用讯号隔离方式设计，于测试端以***短回路方式使用探针出线并在低压回路端以铜环隔离环境辐射干扰，避免PD测量回路受到外部噪声干扰确保测量精准度。