[新品] X-RAY半导体膜厚仪(BA100)

美国博曼BOWMAN是十分简易操作的桌面式测量仪器，具备高解像彩色摄影机配合强大的放大倍数功能，使样品的对位十分容易，在测量中也可以监视测量的位置，如型号配备了可编测量的仪器，更有镭射对位装置来更快速及准确对样品的位置测量。博曼膜厚测试仪符合美国的出口规定，开槽式的测量室设计，可使大块及平坦的样品，比测量室还大的样品，如线路板，都可以测量，能分析多至24种元素。在对焦方面可作自动对焦对位的十字线是可以调校其刻度及测量点大小的，而且可以调节照明用的发光二极管的光亮度，达到更精确的测量结果。

产品特点：

可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.结合了大功率X射线管和高分辨率半导体探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。

电制冷固态探测器确保***的信/躁比，从而降低检测下限。

探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。

有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。

您可以针对您的应用选择***合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。

一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。

大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

技术指标：

★ 型号：BOWMAN_BA 100

★ 元素分析范围：从AL到U

★ 一次性可同时分析多层镀层

★ 分析厚度检测出限***高达0.01um

★ 同时可分析多达5层以上镀层

★ 相互独立的基体效应校正模型，***先进厚度分析方法

★ 多次测量重复性***高可达0.01um

★ 长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）

★ 温度适应范围：15℃~30℃

★ 输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）