美国博曼膜厚测试仪(高端型:高性能、高精密、高分辨)中国总代理
BA100是针对高要求用户设计的,能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖专利X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层
深圳市金东霖科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和***优质的服务都得到客户***高的奖励,在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。
* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。
* 一次可同时分析***多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度***薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
* 小孔准直器(***小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸:450mm*450mm
* 重量:32 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* ***新半导体探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。