Chroma绕线组件电气安规扫描分析仪(19036)

产品特色:

★五合一安规扫描分析仪(交流耐压、直流耐压、绝缘电阻、层间短路、直流电阻)

★耐压测试(Hi-pot)-5kVac/6kVdc-HSCC高速接触检查

★绝缘电阻测试(IR)-***大5kV

★绕线组件脉冲测试(IWT)-脉冲测试高取样率(200MHz)

★直流电阻测试-10通道四线

★直流电阻测试-Δ型/Y型马达绕线电阻计算

★支持***大40通道扫描测试

★繁中/简中/英文操作接口

★USB波形储存&画面撷取功能图形化彩色显示

★标准LAN,USB,RS232界面、GFI人体保护电路

耐压测试-FLASHOVERDETECTION电气闪络侦测(ARC)

19036与Chroma其他安规测试系列仪器同样具有Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成暂态或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试不可或缺的检视项目之一。

脉冲测试所谓的''绕线组件脉冲测试

''基本上是以一''非破坏性''、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，再藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线组件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线组件中各种潜在之缺陷，例如：层间短路、电晕电弧或甚至是不易发觉之部分放电等。四种判定模式 波形面积比较(AREASIZE) 波形差面积比较(DIFFERENTIALAREA) 波形颤动侦测(FLUTTERDETECTION) 波形二阶微分侦测(LAPLACIANDETECTION)以二阶微分演算，有效侦测出因电气放电造成之波形不连续现象。

次测项功能(SUB-STEP)

部分生产厂商常以并联进行耐压测试以提升生产检测速度，但并联测试时，无法正确设定电流上下限值，导致不良品流出;以及不良品需至后测站另加进行测试，增加站数及成本。19036系列提供次测项功能(sub-step)。当生产需要并联测试时，经由程序的编辑，以不良(Fail)做为次测项启动条件。意指当测试于主测项(并联)不良时，才会进行次测项测试(单颗)，即可判断出不良品为哪一颗待测物，可达到高产速与高检测品质之优化。

旋转电机组件：Δ/Υ马达、风扇、转子/定子从电动车主马达、服务器马达、扬升马达与风扇等所有旋转电机类产品，其制程中会进行脉冲测试、耐压测试及直流阻抗量测等测试来确保产品品质。并参考JB/T7080国标机械行业标准执行测试。19036之直流电阻量测上可进行四线式量测，单端点包含Drive和Sense共10组独立通道让您可以一次扫描测试三颗待测物，提高生产产能。每个通道可分别设定为高压Hi/高压Lo/开路。