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电阻率方阻测试仪(KDB-1)
广量程，七个电流档位，可在更广范围内测量样品的电阻率或方块电阻，可连接计算机软件进行精确测量。
更新:2016-11-15
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导电型号测试仪(STY-3)
该仪器是严格按照国标GB/T1550-1997和ASTMF42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电 ...
更新:2016-08-31
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四探针电阻率方阻测试仪(KDY-1)
KDY-1型四探针电阻率测试仪是广州市昆德科技有限公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造。
更新:2016-08-30
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[新品] 电阻率/方阻标准测量装置(KDX系列)
KDX系列产品为测量硅片或锗片电阻率的高精度检测设备，可用于对产品检测要求严格的单位或半导体检测中心，高校等使用。
更新:2016-08-30
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[新品] 硅锭载流子寿命扫描测试系统(WJ-200B)
WJ-200B是针对大尺寸硅锭的测量而设计，可沿端面中轴线（Y轴），从硅锭头部向尾部以选定的间隔扫描测量；可在端面X轴方向从左到右（或 ...
更新:2016-08-30
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微波光电导载流子复合寿命测(WJ-100A)
WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。用 ...
更新:2016-08-30
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[新品] 微波扫描无接触少子寿命测试仪(WJ-200A)
交易类型:产品名称:硅锭载流子寿命扫描测试系统产品型号:WJ-200B厂商:广州市昆德科技有限公司编号:日 期:2016-6-21单价:交易类型:产品 ...
更新:2016-08-30
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