一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法 |
申请号/专利号: |
CN201210294072 |
申 请 日: |
2012.08.17 |
名 称: |
一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法 |
公开(公告)号: |
CN102830306A |
公开(公告)日: |
2012.12.19 |
主分类号: |
G01R31/02 |
分案原申请号: |
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分 类 号: |
G01R31/02; G01R31/00 |
颁 证 日: |
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优 先 权: |
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申请(专利权)人: |
*相关专利 |
地 址: |
江苏省常州市武进区邹区镇施桥村 |
发明(设计)人: |
颜奇旭;王坤亮;朱胜利 *相关专利 |
国际申请: |
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国际公布: |
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进入国家日期: |
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专利代理机构: |
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代 理 人: |
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专利描述: |
本发明公开了一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法,包括工位1、工位2、工位3,所述工位1是充电电路,包括有R1、C1;所述工位2是充电电路,包括有R2、C2;所述工位3是检测电路,包括有R3、C3;该短路检测方法是在铝电解电容器全自动老化机分选机设备上,工位1、工位2分别通过R1和R2对电容器进行充电,工位3通过R3对电容器进行检测,所述工位1电路中电阻R1和电容C1串联;工位2中电阻R2和电容C2串联;工位3中电阻R3和电容C3串联;所述的工位1、工位2、工位3的一端电路并联后与电源串联。通过这样设置可以有效的排除箔粉、假性短路等对高频低阻抗铝电解电容器老化前的影响,提高检测准确率。 |
标签:华威电子 电容器 |
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