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[新品] 分立器件动态参数测试系统(EN-1230A)
EN-1230A型分立器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于可用于Si DIODE、Si MOSFET、Si IGBT和SiC DIODE、S ...
更新:2020-07-22
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[新品] IGBT静态参数测试系统(EN-3020B)
针对 IGBT 的静态参数而研发的智能测试系统，功率3500V、1500A（可扩展），自动化程度高，按照操作人员设定的程序自动工作。计算机记录 ...
更新:2020-07-22
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