晶硅光学掩膜制绒工艺 |
申请号/专利号: |
201110241813.6 |
申 请 日: |
2011.08.23 |
名 称: |
晶硅光学掩膜制绒工艺 |
公开(公告)号: |
CN102412338A |
公开(公告)日: |
2012.04.11 |
主分类号: |
H01L31/18(2006.01)I |
分案原申请号: |
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分 类 号: |
H01L31/18(2006.01)I;C30B33/10(2006.01)I |
颁 证 日: |
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优 先 权: |
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申请(专利权)人: |
*相关专利 |
地 址: |
338019 江西省新余市渝水区下村工业基地大一路 |
发明(设计)人: |
贾积凯;孙杰;潘鹏飞 *相关专利 |
国际申请: |
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国际公布: |
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进入国家日期: |
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专利代理机构: |
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代 理 人: |
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专利描述: |
本发明提供一种多晶硅光学掩膜制绒工艺,其特征在于,对多晶硅硅片进行光学掩膜处理,再放入到氢氟酸、硝酸和缓冲剂的的混合液中进行制绒。它的效果在于:1、对所制绒的排列、密度、大小、深度等参数操控性强,可使多晶硅太阳电池绒面的组织结构非常合理;2、有利于磷扩散制结以及后续的丝网印刷烧结等工艺中参数的优化;3、反射率低,与现有工艺比较,反射率由22.5%降低至18.5%左右。 |
标签:瑞晶太阳能 晶硅 制绒 |
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