一种硅材料少数载流子寿命检测装置 |
申请号/专利号: |
201220303195.3 |
申 请 日: |
2012.06.25 |
名 称: |
一种硅材料少数载流子寿命检测装置 |
公开(公告)号: |
CN202599842U |
公开(公告)日: |
2012.12.12 |
主分类号: |
G01N21/64(2006.01)I |
分案原申请号: |
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分 类 号: |
G01N21/64(2006.01)I |
颁 证 日: |
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优 先 权: |
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申请(专利权)人: |
*相关专利 |
地 址: |
101113 北京市通州区工业开发区光华路16号综合楼A207 |
发明(设计)人: |
白德海;陈才旷;肖宗杰;董培明;罗世铤 *相关专利 |
国际申请: |
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国际公布: |
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进入国家日期: |
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专利代理机构: |
北京康盛知识产权代理有限公司 11331 |
代 理 人: |
伊美年;李贵兰 |
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专利描述: |
本实用新型公开了一种硅材料少数载流子寿命检测装置,包括机箱以及设置在机箱内部的升降机、摄像头、激光器、转台、卤灯和终端,还包括驱动转台转动的伺服电机;所述转台设置在所述机箱中部,所述升降机和卤灯分别位于所述转台两侧;所述摄像头和激光器上下并排固定在所述升降机上,且所述摄像头和激光器朝向所述转台方向;所述升降机、摄像头、激光器、伺服电机和卤灯分别与所述终端电连接。本实用新型为检测硅材料少数载流子寿命提供了新的途径,提高了检测效率的同时,实现了对硅材料的红外探伤。 |
标签:合能阳光 硅材料 |
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